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芯片失效分析檢測(cè)是判斷芯片失效性質(zhì)、分析失效原因、研究預(yù)防措施的技術(shù)工作。其目的在于提高芯片品質(zhì)，改善生產(chǎn)方案，從而保障產(chǎn)品品質(zhì)。

AEC-Q認(rèn)證服務(wù)是專(zhuān)門(mén)針對(duì)汽車(chē)電子零部件設(shè)計(jì)的一系列質(zhì)量評(píng)估與可靠性測(cè)試服務(wù)。它旨在確保汽車(chē)電子部件能夠在各種復(fù)雜多變的環(huán)境下穩(wěn)定工作，為汽車(chē)的安全性和性能提供堅(jiān)實(shí)的保障。

車(chē)規(guī)電子元器件認(rèn)證是對(duì)用于汽車(chē)電子領(lǐng)域的元器件進(jìn)行的一系列嚴(yán)格測(cè)試和認(rèn)證，以確保它們能在汽車(chē)的各種復(fù)雜環(huán)境中穩(wěn)定、可靠地運(yùn)行。

半導(dǎo)體元器件失效分析檢測(cè)采用光學(xué)傳感器、紅外線(xiàn)探測(cè)器或顯微鏡等技術(shù)，通過(guò)觀察和分析半導(dǎo)體元器件表面的光學(xué)特征，來(lái)識(shí)別缺陷、污染或結(jié)構(gòu)問(wèn)題。

光電熱機(jī)械全參數(shù)測(cè)試 光電器件：廣電計(jì)量光、電、熱、機(jī)械全參數(shù)測(cè)試服務(wù)可與企業(yè)合作，深入產(chǎn)品研發(fā)階段，有效為產(chǎn)品研發(fā)和定型提供測(cè)試保障。

傳感器液體冷熱沖擊試驗(yàn)：液態(tài)冷熱沖擊試驗(yàn)主要用于兩個(gè)裝置內(nèi)部的液體冷熱交替循環(huán)試驗(yàn)。冷熱沖擊試驗(yàn)是評(píng)價(jià)散熱器抗溫度交變循環(huán)能力的強(qiáng)化試驗(yàn)，為冷卻器的設(shè)計(jì)提供試驗(yàn)數(shù)據(jù)，也是驗(yàn)證冷熱交變溫度下非金屬-金屬連接件的可靠性，對(duì)保證換熱器質(zhì)量和提高其可靠性具有重要作用。廣電計(jì)量可提供傳感器液態(tài)沖擊試驗(yàn)服務(wù)。

光電子器件LED失效分析：隨著LED應(yīng)用的飛速發(fā)展，其失效問(wèn)題也隨之表現(xiàn)的尤為突出，特別是LED隨機(jī)性不點(diǎn)燈或性不點(diǎn)燈，以及燒燈等，是困擾產(chǎn)品可靠性壽命的關(guān)鍵問(wèn)題。廣電計(jì)量通過(guò)對(duì)LED內(nèi)部的微觀分析，確認(rèn)其結(jié)構(gòu)上的失效特征，可以改進(jìn)設(shè)計(jì)、制造、工藝及應(yīng)用上的潛在或已存在的失效風(fēng)險(xiǎn)，提高產(chǎn)品的可靠性及壽命。

光電器件 電磁繼電器電性能測(cè)試：繼電器是一種自動(dòng)控制開(kāi)關(guān)，當(dāng)其輸入端的物理量達(dá)到某一量值時(shí)，其輸出端的狀態(tài)發(fā)生階躍式變化。繼電器廣泛應(yīng)用于遙控、遙測(cè)、通訊、自動(dòng)控制、機(jī)電一體化及電力電子設(shè)備中，是最重要的控制元件之一。廣電計(jì)量提供電磁繼電器電性能測(cè)試服務(wù)，為實(shí)際使用發(fā)生失效的繼電器進(jìn)行宏觀及微觀的分析，確定其失效模式及其失效的機(jī)理。